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霍爾效應測試系統
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產品簡介
用于測量半導體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數等重要參數，而這些參數是了解半導體材料電學特性必須預先掌控的，因此霍爾效應測試系統是理解和研究半導體器件和半導體材料電學特性必備的工具。實驗結果由軟件自動計算得到，可同時得到體載流子濃度(Bulk Carrier Concentration)、表面載流子濃度 (Sheet Carrier Concentration)、遷移率 (Mobility)、電阻率 (Resistivity)、 霍爾系數 (Hall Coefficient)、磁致電阻 (Magnetoresistance)等等
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振動樣品磁強計
振動樣品磁強計是一種用于測量材料磁性能的儀器，可用于材料研究和開發、質量控制及產品檢測，完成對磁性材料的基本磁性能的測量和分析。可測量磁性材料的基本磁性能（如磁化曲線，磁滯回線，退磁曲線，升溫曲線、升/降溫曲線、降溫曲線、設定溫度下的磁化曲線、設定溫度下的磁滯回線等），得到相應的各種磁學參數（如飽和磁化強度，剩余磁化 強度，矯頑力，最大磁能積，居里溫度，磁導率、初始磁導率等），可測量粉末、顆粒、片狀、塊狀等磁性材料。可原位測量磁性材料從室溫至 800 度以及室溫至液氮溫區磁性能隨溫度的變化曲線
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靜態磁場主動屏蔽系統
系統可以實時抵消地磁場的磁場波動，從而在地磁環境下產生10nT的零磁環境，如在屏蔽房或屏蔽筒內可以產生1nT或0.1nT的梯度磁場，系統也可以隨意在三維分量上產生任意設定的磁場用于科學實驗與模擬地磁變化環境。
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動態磁場主動屏蔽系統
磁場屏蔽效果可以達到更高的水平（小于1nT)，采用交流電流產生磁場使它具有更高的直流，交流磁場屏蔽效能，更準確的軌跡尋跡功能，更大的量程范圍，更高的響應速度，，能夠達到在（0-100000nT)磁場的范圍內，三分量X,Y,Z的磁場產生可以精確到1nT，調節步進也可精確到1nT，使科研,軍工,醫療等眾多領域的產品制作和實驗極具意義，已被廣泛應用。
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磁場控制系統
磁場控制系統，可實現磁場的自動控制，磁場波形可為正弦波、方波、三角波、振蕩波等波形，也可以做為靜磁場恒定輸出。在磁場手柄控制狀態下，可以控制磁場的角度，方向以及磁場的大小。
測試/實驗系統 產品配件
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直流勵磁電源
提供可調的穩定輸入電流
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功率放大器
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磁場采集高斯計
測量磁場強度
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電磁鐵
固定氣隙電磁鐵
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亥姆霍茲線圈
用于產生磁場
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永磁體
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電磁鐵循環制冷機
提供循環冷卻水
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Temp Guard™溫度模塊
線圈溫度實時顯示，可設置多段溫度保護動作，配合勵磁電源為線圈提供溫度保護
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旋轉底座
帶有腳輪的產品承托平臺，同時可驅動產品在水平方向360°旋轉，可手動或電控產品旋轉角度。
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固定底座
帶有腳輪的產品承托平臺
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測量系統軟件
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磁矩測量單元主機
包括掃描電源，鎖相放大器、特斯拉計、高溫驅動源、振動源
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振動系統
包括振動頭及支架、檢測線圈、樣品室
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計算機
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高溫控制、測量裝置
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低溫控制、測量裝置
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高低溫杜瓦
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標準樣品
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霍爾效應樣品支架/三維微型探針臺
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機柜
由高精度恒流源、高精度電壓表、高精度高斯計、電磁鐵電源、高精度源表、矩陣卡、控溫儀組成
測試/實驗系統 FAQs
